Microscopia de varredura na qual uma sonda muito afiada é aplicada nas proximidades fechadas a uma superfície, explorando uma propriedade particular relacionada com a superfície. Quando esta propriedade é a topografia local, o método é MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA e quando é a condutividade local, o método é microscopia de tunelamento.


Imagens

<b>Microscópio</b> Eletrônico de

Microscópio Eletrônico de
www.ufmg.br

<b>microscopia</b> de <b>varredura</b>

microscopia de varredura
www2.ufmg.br

<b>Microscópio</b> de <b>Varredura</b> por

Microscópio de Varredura por
www.ufmg.br

<b>microscópio</b> de <b>varredura</b>

microscópio de varredura
www.redespm.org.br

de <b>Varredura</b> por Força

de Varredura por Força
www.scielo.br

Imagem obtida por <b>microscópio</b>

Imagem obtida por microscópio
cienciahoje.uol.com.br

<b>microscopia</b> de <b>varredura</b>

microscopia de varredura
www2.ufmg.br

de <b>varredura</b> por <b>sonda</b>

de varredura por sonda
www.scielo.br



Não avalia ou garante a precisão de qualquer conteúdo deste site. Clique aqui para ler o termo de responsabilidade.

Última atualização: Setembro 2014