Microscopia de varredura na qual uma sonda muito afiada é aplicada nas proximidades fechadas a uma superfície, explorando uma propriedade particular relacionada com a superfície. Quando esta propriedade é a topografia local, o método é MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA e quando é a condutividade local, o método é microscopia de tunelamento.


Imagens

<b>Microscópio</b> Eletrônico de

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<b>microscópio</b> de <b>varredura</b>

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de <b>Varredura</b> por Força

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por meio de <b>microscópio</b> de

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de <b>varredura</b> por <b>sonda</b>

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microscópios de <b>varredura</b>

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As imagens topográficas

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O <b>Microscópio</b> de <b>Varredura</b> por

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Última atualização: Setembro 2014